Probe PCB ialah medium sentuhan untuk ujian elektrik, yang merupakan komponen elektronik penting dan pembawa untuk menyambung dan mengalirkan komponen elektronik. Probe PCB digunakan secara meluas untuk menguji penghantaran data dan sentuhan konduktif PCBA. Data fungsi penghantaran konduktif prob boleh digunakan untuk menilai sama ada produk berada dalam sentuhan normal dan sama ada data operasi adalah normal.
Secara amnya, prob PCB mempunyai banyak spesifikasi, terutamanya terdiri daripada tiga bahagian: pertama, tiub jarum, yang kebanyakannya diperbuat daripada aloi kuprum dan disalut dengan emas. Yang kedua ialah spring, terutamanya dawai keluli piano dan spring keluli disalut dengan emas. Yang ketiga ialah jarum, terutamanya keluli alat (SK) penyaduran nikel atau penyaduran emas. Tiga bahagian di atas dipasang menjadi prob. Di samping itu, terdapat sarung luar, yang boleh disambungkan melalui kimpalan.
Jenis prob PCB
1. Siasatan ICT
Jarak yang biasa digunakan ialah 1.27mm, 1.91MM, 2.54mm. Siri yang biasa digunakan ialah siri 100, siri 75, dan siri 50. Ia digunakan terutamanya untuk ujian litar dalam talian dan ujian fungsian. Ujian ICT dan ujian FCT digunakan lebih kerap untuk menguji papan PCB kosong.
2. Probe hujung dua
Ia digunakan untuk ujian BGA. Ia agak ketat dan memerlukan mutu kerja yang tinggi. Secara amnya, cip IC telefon bimbit, cip IC komputer riba, komputer tablet dan cip IC komunikasi diuji. Diameter badan jarum adalah antara 0.25MM dan 0.58MM.
3. Suis prob
Satu prob suis tunggal mempunyai dua litar arus untuk mengawal fungsi litar yang biasanya terbuka dan biasanya tertutup.
4. Probe frekuensi tinggi
Ia digunakan untuk menguji isyarat frekuensi tinggi, dengan cincin perisai, ia boleh diuji dalam lingkungan 10GHz dan 500MHz tanpa cincin perisai.
5. Probe berputar
Keanjalannya pada amnya tidak tinggi, kerana kebolehtembusannya secara semula jadi kuat, dan ia biasanya digunakan untuk ujian PCBA yang telah diproses oleh OSP.
6. Probe arus tinggi
Diameter prob adalah antara 2.98 mm dan 5.0 mm, dan arus ujian maksimum boleh mencapai 50 A.
7. Probe sentuhan bateri
Ia biasanya digunakan untuk mengoptimumkan kesan sentuhan, dengan kestabilan yang baik dan jangka hayat yang panjang. Ia digunakan untuk mengalirkan elektrik pada bahagian sentuhan bateri telefon bimbit, slot kad data SIM dan bahagian konduktif antara muka pengecas yang biasa digunakan.
Masa siaran: 13 Dis-2022
